殘余應力測定儀的基本原理
更新時(shí)間:2017-12-19 點(diǎn)擊次數:2246次
殘余應力測定儀的基本原理:
殘余應力測定儀的基本原理是以測量衍射線(xiàn)位移作為原始數據,所測得的結果實(shí)際上是殘余應變,而殘余應力是通過(guò)胡克定律由殘余應變計算得到的。
其基本原理是:當試樣中存在殘余應力時(shí),晶面間距將發(fā)生變化,發(fā)生布拉格衍射時(shí),產(chǎn)生的衍射峰也將隨之移動(dòng),而且移動(dòng)距離的大小與應力大小相關(guān)。用波長(cháng)λ的X射線(xiàn),先后數次以不同的入射角照射到試樣上,測出相應的衍射角2θ,求出2θ對sin2ψ的斜率M,便可算出應力σψ。
X射線(xiàn)衍射方法主要是測試沿試樣表面某一方向上的內應力σφ。為此需利用彈性力學(xué)理論求出σφ的表達式。由于X射線(xiàn)對試樣的穿入能力有限,只能探測試樣的表層應力,這種表層應力分布可視為二維應力狀態(tài),其垂直試樣的主應力σ3≈0(該方向的主應變ε3≠0)。
上一篇 : 布魯克貴金屬分析儀的*能與優(yōu)勢 下一篇 : 布魯克礦石分析儀的主要技術(shù)指標和特點(diǎn)